반도체소자품질공정연구원

반도체소자가 가지는 수명 예측기간, 동작조건 및 사용환경 관련 규격을 만족하는지를 판단하기 위한 전기적 가속 및 물리적 파괴시험 등의 평가기술을 연구·개발한다.물리적 환경시험인 고온, 고습, 고압, 온도 사이클, 열 충격 시험 등에 대한 평가항목, 목적 및 방법을 정의하고, 수명가속 시험평가를 위한 고온, 고전압 동작시험 항목, 목적 및 방법을 정의하며, EMI, EMS(ESD) 유형별 메커니즘을 이해하고, 전기적 특성 시험평가 항목, 목적 및 방법을 정의한다.각종 소자품질 시험결과가 국제규격표준, 전기적 특성, 고객 요구성능을 만족시키는지를 판단하고, 회로설계 오류분석을 통해 설계를 검증하여 개선을 지원하며, 또한 제조공정 불량분석을 통한 공정개선을 지원한다.국내외 학회, 세미나, 연구기관 및 제조업체로부터 획득한 정보 및 제품을 기반으로 다양한 소자품질 공정 및 장비기술을 시험평가하고, 최적화하는 연구·개발활동을 단독 또는 공동으로 수행한다.소자품질 공정개발과정에는 반도체 검사라인 이관 시 최고의 품질 및 생산성을 고려한 공정 및 장비기술을 연구·개발한다.